用于質(zhì)量保證的三維 X 射線測(cè)量技術(shù)

ZEISS METROTOM

 

 

基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精確性的高要求。

 

第三代新款蔡司METROTOM 1500

面向未來(lái)的質(zhì)量控制——今天

 

十二年來(lái)，蔡司METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進(jìn)可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天，您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。

 

蔡司METROTOM 1500（第2代與第3代）中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測(cè)器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。

 

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在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測(cè)器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺陷。

蔡司METROTOM 1500（第2代與第3代）中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測(cè)器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。

 

掃描更快

通過(guò)檢測(cè)器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75％，同時(shí)獲得與2k檢測(cè)器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。